BRUKER納米紅外光譜與成像系統nanolR3-S
BRUKER納米紅外光譜與成像系統nanolR3-S
原子力顯微鏡（AFM）的納米紅外光譜（AFM-IR）是一種將AFM的高空間分辨率與紅外光譜的化學分析能力相結合的新技術。該技術通過使用原子力顯微鏡的針尖來局部檢測樣品因紅外輻射的局部吸收而產生的熱膨脹信號，突破了傳統紅外顯微光譜由于光衍射而引起的空間分辨率限制，可實現優于10nm空間分辨，單分子層靈敏度的納米紅外光譜和紅外成像。
更新時間：2026-02-03 訪問量：46 型號：
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