| 品牌 | 其他品牌 | 產地 | 進口 |
|---|---|---|---|
| 加工定制 | 否 |
Analysis TechInc.成立于1983年,坐落于波士頓北部,是電子封裝器件可靠性測試的國際設計,制造公司。創始人JohnW.Sofia是美國麻省理工的博士,并且是提出焊點可靠性,熱阻分析和熱導率理論的專家。發表了很多關于熱陽測試于分析,熱導率及焊點可靠性方面的論文。
美國ANATECH瞬斷監測儀 特點:
閾值電阻范圍:100到5000ohms,用戶可調節。
最小事件持續時間:200ns
通道探測電流:小于1.2MA
系統可同時使用64、128、192和256個通道
RS232C串口用于將數據傳輸到個人電腦(線包括在內)
規格參數:
閾值電阻范圍:100到4000ohms (low);300到5000ohms(high)
通道電流源最大默認值:0.6volts, 9.8volts(high)
最大通道敏感電流:1.2mA maximum
典型閾值電阻公差:±4%
最大閾值電阻公差:±10%
典型事件持續敏感度:200nS
最小持續時間檢測公差:±10%
電源電壓:100/115/220 VAC 50/60Hz

美國ANATECH瞬斷監測儀 應用場景
電子制造:在電子產品的生產過程中,用于檢測電路板、電子元件等在制造過程中可能出現的瞬斷問題,確保產品質量。
通信領域:對通信線路和設備進行監測,及時發現并定位通信過程中的瞬斷故障,保障通信的穩定性和可靠性。
航空航天與汽車電子:在這些對可靠性要求*高的領域,用于監測電子系統的瞬斷情況,預防因瞬斷導致的系統故障和安全事故。